光伏组件pid测试

光伏组件由高效晶体硅太阳能电池片、超白布纹钢化玻璃、eva(ethylene vinyl acetate copolymer，乙烯-醋酸乙烯共聚物)膜层、透明tpt(tedlar/pet/tedlar，聚氟乙烯复合膜)背板以及铝合金边框组成。光伏发电系统的系统电压对光伏组件存在持续的“电位诱发衰减(potential induced degradation，pid)”效应，高效晶体硅太阳能电池片通过封装材料对光伏组件的边框形成回路造成漏电流，导致光伏组件发电性能下降。因此，对待出厂的光伏组件进行pid测试具有重要意义。

PID测试有两种加速老化的方法：
1）在特定的温度、湿度下，在组件玻璃表面覆盖铝箔、铜箔或者湿布，在组件的输出端和表面覆盖物之间施加电压一定的时间。
2）在85%湿度85℃或者是60℃或85℃的环境下将-1000V直流电施加在组件输出端和铝框上48~96小时。

PID 测试标准引自 IEC 62804 （Draft） 根据IEC61730-2 MST 01进行外观检测；
根据IEC61215第二版进行最大功率测试；
根据IEC61215第二版条目10.15进行湿漏电流测试；
如果组件有裸露的导电部位，则要根据IEC61730-2 MST13进行接地连续性测试

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